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O livro Espectroscopia Fotoeletrônica por raios X (XPS) apresenta esta técnica que se tornou essencial em grande variedade de pesquisas. A autora consegue, numa linguagem clara e extremamente didática, introduzir os diferentes usos dessa técnica de caracterização de superfícies sólidas.
A obra é abrangente, cobrindo desde a origem da técnica, passa pela descrição do potencial como técnica analítica e cobre inclusive os aspectos técnicos relacionados ao equipamento e à geração dos raios X. O livro mostra como a técnica de XPS pode ser utilizada para a caracterização das primeiras camadas da superfície de um sólido, conhecimento particularmente importante em campos como o dos catalisadores sólidos [em particular aqueles empregados industrialmente], materiais usados em nanotecnologia etc.
São descritos exemplos como o uso para a determinação das concentrações relativas de diversos constituintes das primeiras camadas de um sólido, grau de oxidação dos diversos elementos e/ou o caráter covalente das ligações envolvidas. Este livro é muito bem vindo ao preencher uma lacuna em termos de livros-texto em português nesta área de especialidade.
Nome
INTRODUÇAO A TECNICA DE ESPECTROSCOPIA FOTOELETRONICA POR RAIOS X (XPS)
CodBarra
9788561325619
Segmento
Ciências
Encadernação
Brochura
Idioma
Português
Data Lançamento
01/01/2011
Páginas
102
Peso
177,00
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